Zur Seitennavigation oder mit Tastenkombination für den
accesskey
-Taste und Taste 1
Zum Seiteninhalt oder mit Tastenkombination für den
accesskey
und Taste 2
Ab 1.11.2022 wird S.A.M. für alle Anliegen rund um das Studium genutzt!
Studentisches Leben
Personen
Forschung
Hilfe
A
nmelden
Sie sind hier:
Startseite
(Seite 42)
Semester: SoSe 2023
Theory-Data Maps: A Meta-Model and Methods for Inferring and Visualizing Relationships between Causal Theories and Empirical Evidences - Einzelansicht
Grunddaten
Zugeordnete Projekte
beteiligte Personen der HWR
beteiligte externe Personen
Zugeordnete Einrichtungen
Link
bibliographisches Zitat
bibliographisches Zitat
Müller, R.
(2016).
Theory-Data Maps: A Meta-Model and Methods for Inferring and Visualizing Relationships between Causal Theories and Empirical Evidences.
In:
Bui, T.
;
Sprague, Jr., R.
(Hrsg.).
Proceedings of the 49th Annual Hawaii International Conference on System Sciences, HICSS 2016, 5-8 January 2016, Kauai, Hawaii.
online:
IEEE Computer Society Press.
S. 5288 - 5297
Print-ISBN: 978-0-7695-5670-3
Grunddaten
Titel des Beitrags
Theory-Data Maps: A Meta-Model and Methods for Inferring and Visualizing Relationships between Causal Theories and Empirical Evidences
Titel des Konferenzbeitrages
Proceedings of the 49th Annual Hawaii International Conference on System Sciences, HICSS 2016, 5-8 January 2016, Kauai, Hawaii
Erscheinungsjahr
2016
Seitenzahl von
5288
Seitenzahl bis
5297
Seiten-Umfang
10
Verlag
IEEE Computer Society Press
Verlagsort
online
Publikationsart
Konferenzbeitrag/Proceeding
Print-ISBN
978-0-7695-5670-3
beteiligte Personen der HWR
Müller, Roland, Prof. Dr. (Autor/in)
beteiligte externe Personen
X. Bui, T. (Herausgeber/in)
H. Sprague, Jr., R. (Herausgeber/in)
Zugeordnete Projekte
Metaanalyse von kausalen Wissensmanagement-Theorien
(Das Projekt ist für die Veröffentlichung im Internet nicht freigegeben)
Zugeordnete Einrichtungen
Fachbereich 1 Wirtschaftswissenschaften
Link
Beschreibung
Link
QR-Code
DOI: 10.1109/HICSS.2016.653
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/login.jsp?tp=&arnumber=7427841&url=http%3A%2F%2Fieeexplore.ieee.org%2Fxpls%2Fabs_all.jsp%3Farnumber%3D7427841